Az
elektronmikroszkop
egy olyan mikroszkop, ami elektronnyalabot ? nagy sebessegre felgyorsitott
elektronokat
? hasznal a megfigyelend? targy lekepezesere. A hagyomanyos
fenymikroszkopehoz
kepest sokkal jobb felbontasa reven az elektronmikroszkopos felveteleken a
sejten
beluli reszletek, de
atomok
konturjai, szabalyos
kristalyracsszerkezet
korvonalai is megfigyelhet?k.
A
mikroszkop
feltalalasa az
1600-as evek
elejere tehet?, ezek utan nagyjabol haromszaz evvel kes?bb az
Abbe-fele elv
reven valt vilagossa, hogy barmilyen technikai tokeletesites reven sem lehet a fenymikroszkop
felbontasi hatarat
a minta reszletein megvalosulo
fenyelhajlas
miatt 200
nm
ala vinni, es igy peldaul elerhetetlen egy sejt belsejenek kepi megismerese.
Louis de Broglie
1924-ben doktori disszertaciojaban bemutatta, hogy minden mozgo elemi reszecske hullamtermeszettel is rendelkezik. A
hullam-reszecske kett?sseg
elve minden adott sebesseggel mozgo, adott tomeg? reszecskehez hullamhosszat is rendel. Az addigra mar
Joseph John Thomson
altal felfedezett elektron hullamtermeszetet bizonyito
elektrondiffrakcios
kiserletek 1927-ben
Clinton Joseph Davisson es Lester Halbert Germer
, illetve t?luk fuggetlenul
George Paget Thomson
(J. J. Thomson fia) nevehez f?z?dtek. Az elektronnyalab fokuszalasahoz szukseges elektromagneses lencse otletet pedig
Hans Busch
1926-ban publikalta. Mindezen el?zmenyek ismereteben
Szilard Leo
mar 1928-ban biztatta Buscht egy elektronmikroszkop megepitesere.
[1]
Az elektronmikroszkop m?kodeset demonstralo berendezest ? az els? negyszazszoros nagyitasu prototipust ? aztan
Ernst Ruska
nemet fizikus mutatta be 1931-ben. 1933-ban ? epitette meg azt az elektronmikroszkopot is, amely mar a fenymikroszkoppal elerhet? nagyitasnal nagyobb nagyitasra volt kepes. Ruska 1986-ban kapott
Nobel-dijat
az elektronmikroszkop feltalalasert.
[2]
Az elektron kett?s termeszete es az elektronmikroszkop felbontasi hatara
[
szerkesztes
]
De Broglie elmelete szerint az
tomeg?,
sebesseg? elektronokbol, mint reszecskekb?l allo nyalabhoz rendelhet? hullam hullamhossza az alabbi osszefugges segitsegevel irhato fel:
- , ahol
h
a
Planck-allando
.
Homogen
elektromos mez?ben
gyorsulo elektron mozgasi energiajanak megvaltozasa az elektromos mez? munkajabol szarmazik, a munkatetel szerint:
- , ahol
e
az
elektron toltese
,
U
a gyorsito
feszultseg
.
A hullamhossz tehat felirhato a gyorsito feszultseg fuggvenyeben:
- .
Az elektronmikroszkopban alkalmazott 10-100 kV gyorsito feszultseg reven az elektronok relativisztikus sebessegre tesznek szert, elerhetik a
fenysebesseg
70%-at is. Ilyen esetben nem tekinthetunk el attol, hogy a reszecskek tomege fugg a sebessegt?l, a hullamhossz fenti osszefuggese a kovetkez?keppen modosul:
- ,
ahol
c
a feny vakuumbeli terjedesi sebessege.
Abbe-elve szerint az elerhet? felbontas:
- .
Fentiek alapjan az elektronmikroszkopban terjed? nyalabok hullamhossza pikometeres nagysagrend?, ami sokkal rovidebb, mint a feny nehany szaz nanometeres hullamhossza. Az elektronoptika tulajdonsagaibol szarmazo
numerikus aperturat
(
NA
= 10
-3
) is figyelembe veve az elektronmikroszkoppal 0,5 nm koruli felbontas erhet? el.
[3]
Az elektronmikroszkop f?bb reszei
[
szerkesztes
]
A Ruska altal felepitett els? transzmisszios elektronmikroszkop utan ma mar tobbfele elrendezesben m?kodnek elektronmikroszkopok, mindegyikben vannak azonban kozos elemek.
Az elektronagyubol szarmazo elektronnyalabot vakuumcs?ben inhomogen elektromos es magneses terek gyorsitjak, fokuszaljak a mintara, az azon atjuto, elhajlo, vagy egyeb kolcsonhatasbol szarmazo sugarzast megfelel? detektorokkal erzekelve keszul a kep.
Az elektronnyalab kolcsonhatasa a mintaval, meresi lehet?segek
[
szerkesztes
]
A mintara erkez? elektronnyalab es az anyag kozott tobbfele kolcsonhatas johet letre. Attol fugg?en, hogy a mintanak az elektronforras fele es? feluleten letrejov? valtozasokat, vagy a minta tulso oldalan torten?ket figyeljuk meg, mas merestechnikara van szuksegunk.
Transzmisszios uzemmodban a 10-100 nm vastagsagu mintara erkez? parhuzamos nyalab elhajlast szenved az egyes atomcsoportokon, a minta tuloldalan kilep? szort elektronok irany szerinti eloszlasa tukrozi a minta reszleteit. Ily modon ketdimenzios, szummacios kep keszul.
Reflexios uzemmodban az elektronok altal kivaltott valamely hatas eredmenyet figyeljuk meg a kepalkotashoz. Az elektron-visszaszoras alapjan rendszambeli kulonbsegek ? peldaul nehez atomok csoportjai ? jelenithet?k meg.
A szekunder elektronok eloszlasa a felulet topografiajat jellemzi. A szorasi kep igen erzekeny a felulet reszleteire. Kb. 10 nm-es melysegben terszer? reprezentacio keszithet?, ez a modszer kulonosen jol hasznalhato biologiai alkalmazasoknal.
Az
Auger-elektronok
es az elektronnyalab altal kivaltott karakterisztikus
rontgensugarzas
spektrumanak megfigyelese a kemiai osszetetel meghatarozasat teszi lehet?ve.
Jol lefokuszalt nyalab segitsegevel akar pontrol pontra nyerhetunk informaciot, ehhez azonban a minta mozgatasa, szkennelese szukseges.
A sokfele kolcsonhatasi folyamatnak es merestechnikanak megfelel?en ma mar tobbfele elektronmikroszkop letezik.
Alkalmazasi teruletek
[
szerkesztes
]
A fenymikroszkopehoz kepest jelent?sen nagyobb felbontas sokfele alkalmazast tesz lehet?ve. Bar a minta komplikalt el?keszitese, a szukseges vizmentes vakuum kornyezet korlatozza a biologiai alkalmazast, az elektronmikroszkopos vizsgalatok sok uj felfedezest hoztak az orvosi, biologiai kutatasokban. Erdekes peldaul, hogy az igy nyert eredmenyek el?bb kaptak tudomanyos elismerest az 1974-es
orvosi Nobel-dij
reven, mint a modszer feltalaloi.